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薄壁试件脉冲热像法深度检测模型分析

万锴 马齐爽

万锴, 马齐爽. 薄壁试件脉冲热像法深度检测模型分析[J]. 北京航空航天大学学报, 2010, 36(10): 1256-1260.
引用本文: 万锴, 马齐爽. 薄壁试件脉冲热像法深度检测模型分析[J]. 北京航空航天大学学报, 2010, 36(10): 1256-1260.
Wan Kai, Ma Qishuang. Analysis of depth testing model for thin board specimen in pulsed thermography[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2010, 36(10): 1256-1260. (in Chinese)
Citation: Wan Kai, Ma Qishuang. Analysis of depth testing model for thin board specimen in pulsed thermography[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2010, 36(10): 1256-1260. (in Chinese)

薄壁试件脉冲热像法深度检测模型分析

详细信息
  • 中图分类号: TN 219; TG 115.28

Analysis of depth testing model for thin board specimen in pulsed thermography

  • 摘要: 脉冲热像法作为红外热像检测中具有定量分析能力的方法,其主要检测模型温差函数法在薄壁试件的缺陷深度检测时存在失效问题.为找出建模过程中的缺陷,以理想脉冲激励下一维有限形式的解析解替代原温差函数模型中的近似解,在温差曲线和温差导数曲线中,对模型中的核心参数峰值温差时间和峰值斜率时间的使用特性进行了比较分析.结果显示:峰值温差时间由参考点决定,而不由测试点决定,峰值温差时间不具备对缺陷深度的定量检测能力;峰值斜率时间的适用范围受到测试点与参考点实际深度之比的限制,根据给出的适用性判据公式求得该比值的上限在0.5附近,判据公式可作为使用峰值斜率时间的理论依据.

     

  • [1] Avdelidis N P,Almond D P,Dobbinson A,et al.Aircraft composites assessment by means of transient thermal NDT[J].Progress in Aerospace Sciences,2004,40:143-162 [2] Wallbrink C,Wade S A,Jones R.The effect of size on the quantitative estimation of defect depth in steel structures using lock-in thermography[J].J Appl Phys,2007,101(10):104907 [3] Han Xiaoyan.Measuring subsurface defect depth and metal loss by thermal wave imaging & inverse scattering of photon density waves .Detroit: Wayne State University,1997 [4] Ringermacher H I,Archacki R J,Veronesi W A.Nondestructive testing: transient depth thermography:United States,5711603 .1998-01-27 [5] Thomas R L,Favro L D,Kuo P K.Thermal wave imaging of hidden corrosion .ADA3436383,1998 [6] Maldague X,Galmiche F,Ziadi A.Advances in pulsed phase thermography[J].Infrared Physics & Technology,2002,43:175-181 [7] Shepard S M,Lhota J R,Rubadeux B A,et al.Reconstruction and enhancement of active thermographic image sequences[J].Optical Engineering,2003,42(5):1337-1342 [8] Sun J G.Method for determining defect depth using thermal imaging:United States,US6542849B2 .2003-04-01 [9] Sun J G.Analysis of pulsed thermography methods for defect depth prediction[J].Journal of Heat Transfer,2006,128(4):329-338
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出版历程
  • 收稿日期:  2009-09-15
  • 网络出版日期:  2010-10-31

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