北京航空航天大学学报  2014, Vol. 40 Issue (8): 1022-1026    DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2013.0504
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基于多光谱测温优化的材料光谱发射率测量
杨永军1, 王中宇1, 张术坤2, 张学聪2
1. 北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院, 北京 100191;
2. 北京长城计量测试技术研究所, 北京 100095
Material spectral emissivity measurement optimized by multi-spectral temperature measured
Yang Yongjun1, Wang Zhongyu1, Zhang Shukun2, Zhang Xuecong2
1. School of Instrumentation Science and Opto-electronics Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China;
2. Beijing Changcheng Institute of Metrology and Measurement, Beijing 100095, China
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