北京航空航天大学学报  2018, Vol. 44 Issue (3): 593-604    DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2017.0173
  论文 本期目录 | 过刊浏览 | 高级检索 |
基于多态系统的总线胚胎电子阵列可靠性分析
王涛, 蔡金燕, 孟亚峰, 朱赛
陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系, 石家庄 050003
Reliability analysis of bus-based embryonic electronic array based on multi-state system
WANG Tao, CAI Jinyan, MENG Yafeng, ZHU Sai
Department of Electronic and Optical Engineering, Army Engineering University Shijiazhuang Campus, Shijiazhuang 050003, China
版权所有 © 《北京航空航天大学学报》编辑部
地址:北京市海淀区学院路37号 北京航空航天大学学报编辑部 邮编:100191 电子信箱:jbuaa@buaa.edu.cn
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发  技术支持:support@magtech.com.cn