北京航空航天大学学报 ›› 2004, Vol. 30 ›› Issue (02): 173-176.

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关于国军标电子元器件密封性试验的探讨

张丹丹, 武建文   

  1. 北京航空航天大学 自动化科学与电气工程学院, 北京 100083
  • 收稿日期:2002-10-16 出版日期:2004-02-29 发布日期:2010-09-21
  • 作者简介:张丹丹(1979-),女,广东汕头人,硕士生, dandanzdd@tom.com.

Discussion about seal test of electronics in GJB

Zhang Dandan, Wu Jianwen   

  1. School of Automation Science and Electrical Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100083, China
  • Received:2002-10-16 Online:2004-02-29 Published:2010-09-21

摘要: 通过理论分析论证了国家军用标准关于电子元器件密封性试验中存在的问题,提出了改进方案,为实现科学控制军品密封质量提供了参考依据.结合某厂密封性试验中细检漏的失效数据,说明国军标应对实验条件严格控制的必要性.

Abstract: The problems about sealing test of electronics in GJB were analyzed. Improved methods were presented, which provide the references for controlling theseal quality of military products scientifically. Failure data from a seal test processed by some factory are given to illustrate the importance of strictly controlling test conditions.

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