北京航空航天大学学报  2012, Vol. 38 Issue (10): 1285-1289    
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SRAM型FPGA单粒子效应逐位翻转故障注入方法
宋凝芳1, 秦姣梅1, 潘雄1, 江云天2
1. 北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院, 北京 100191;
2. 第二炮兵装备研究院, 北京 100085
Evaluating SEU effects in SRAM-based FPGA with bit-by-bit upset fault injection
Song Ningfang1, Qin Jiaomei1, Pan Xiong1, Jiang Yuntian2
1. School of Instrument Science and Opto-electronics Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China;
2. The Second Artillery Equipment Academy, Beijing 100085, China
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