北京航空航天大学学报  2016, Vol. 42 Issue (12): 2610-2619    DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2015.0789
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弹用电磁继电器贮存退化试验及其寿命预测方法
王召斌1,2, 符赛1, 尚尚1, 翟国富3
1. 江苏科技大学 电子信息学院, 镇江 212003;
2. 浙江理工大学 机械工程博士后科研流动站, 杭州 310018;
3. 哈尔滨工业大学 电气工程及自动化学院, 哈尔滨 150001
Storage degradation testing and life prediction for missile electromagnetic relay
WANG Zhaobin1,2, FU Sai1, SHANG Shang1, ZHAI Guofu3
1. School of Electronics and Information, Jiangsu University of Science and Technology, Zhenjiang 212003, China;
2. Postdoctoral Research Station of Mechanical Engineering, Zhejiang Sci-Tech University, Hangzhou 310018, China;
3. School of Electrical Engineering and Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China
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