北京航空航天大学学报  2019, Vol. 45 Issue (6): 1153-1161    DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2018.0586
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基于UGF-GO法的EWIS退化系统可靠性分析
曹慧1, 段富海1, 江秀红2
1. 大连理工大学 机械工程学院, 大连 116024;
2. 沈阳航空航天大学 电子信息工程学院, 沈阳 110136
Degradation system reliability analysis of EWIS based on UGF-GO methodology
CAO Hui1, DUAN Fuhai1, JIANG Xiuhong2
1. School of Mechanical Engineering, Dalian University of Technology, Dalian 116024, China;
2. College of Electronic and Information Engineering, Shenyang Aerospace University, Shenyang 110136, China
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