基于随机相关的电子部件二元加速退化可靠性评估
盖炳良, 滕克难, 王浩伟, 王文双, 陈健, 宦婧
Reliability assessment for electronic components with bivariate accelerated degradation based on random correlation
GAI Bingliang, TENG Kenan, WANG Haowei, WANG Wenshuang, CHEN Jian, HUAN Jing
北京航空航天大学学报 . 2019, (11): 2237 -2246 .  DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2019.0130


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