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裂纹扩展阻力曲线与试样厚度关系

杨继运 张行 张珉

杨继运, 张行, 张珉等 . 裂纹扩展阻力曲线与试样厚度关系[J]. 北京航空航天大学学报, 2003, 29(7): 575-578.
引用本文: 杨继运, 张行, 张珉等 . 裂纹扩展阻力曲线与试样厚度关系[J]. 北京航空航天大学学报, 2003, 29(7): 575-578.
Yang Jiyun, Zhang Xing, Zhang Minet al. Research on relation between crack extension resistance curve and sample thickness[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2003, 29(7): 575-578. (in Chinese)
Citation: Yang Jiyun, Zhang Xing, Zhang Minet al. Research on relation between crack extension resistance curve and sample thickness[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2003, 29(7): 575-578. (in Chinese)

裂纹扩展阻力曲线与试样厚度关系

基金项目: 教育部博士点基金资助项目(1999000607)
详细信息
    作者简介:

    杨继运(1975-),男,山东定陶人,博士生, yhahay@sina.com.cn.

  • 中图分类号: O 3461

Research on relation between crack extension resistance curve and sample thickness

  • 摘要: 在有关裂纹扩展理论阻力曲线研究的基础上,给出了阻力曲线与试样厚度关系的数学表达式.利用少量试验结果,根据最小二乘方法即可确定表达式中的参量.通过这一表达式,可以计算任意厚度下的阻力曲线方程,从而获得该厚度对应的阻力曲线.这一数学表达式得到了试验结果的验证,并可补充现有手册中试验数据之不足.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2002-05-09
  • 网络出版日期:  2003-07-31

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