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应用于毫米波反射计的多项式校准方法

赵鑫 刘金扬 苗俊刚 姜景山

赵鑫, 刘金扬, 苗俊刚, 等 . 应用于毫米波反射计的多项式校准方法[J]. 北京航空航天大学学报, 2011, 37(6): 728-732.
引用本文: 赵鑫, 刘金扬, 苗俊刚, 等 . 应用于毫米波反射计的多项式校准方法[J]. 北京航空航天大学学报, 2011, 37(6): 728-732.
Zhao Xin, Liu Jinyang, Miao Jungang, et al. Polynomial calibration method for millimeter-wave reflectometer[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2011, 37(6): 728-732. (in Chinese)
Citation: Zhao Xin, Liu Jinyang, Miao Jungang, et al. Polynomial calibration method for millimeter-wave reflectometer[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2011, 37(6): 728-732. (in Chinese)

应用于毫米波反射计的多项式校准方法

基金项目: 国家杰出青年科学基金资助项目(40525015)
详细信息
  • 中图分类号: TM 934.72

Polynomial calibration method for millimeter-wave reflectometer

  • 摘要: 为了在毫米波波段准确测量波导器件的反射系数,提出了一种应用在反射系数测试前端(反射计)中的校准方法.该校准方法采用基于多项式的误差模型,使得每一个误差项的求解都转化成一个求解轨迹圆圆心的问题,同时不影响求解精度.采用一个滑动负载、一个滑动短路和一个短路器,在毫米波波段降低了对标准件理想程度的要求.实验中搭建了一个Ka波段的反射计,图解误差项的求解过程,分析了误差项的物理意义.把校准后的测量结果与商用矢量网络分析仪(VNA,Vector Network Analyzer)进行比较,吻合较好.同样比较了一组W波段反射计对波纹喇叭的测量结果,进一步验证了方法的合理性.

     

  • [1] Agilent Technologies.Agilent PNA microwave network analyzers,application note 1408-15 .Santa Clara,CA:Agilent Technologies,Inc,2009 .http://na.tm.agilent.com/pna/files/an1408-13.pdf [2] Hiebel Michael.Millimeter-wave measurements using converters of the R&S ZVA family,application note 1EZ55 .Rohde&Schwarz GmbH&Co KG,2007 .http://www2.rohde-schwarz.com/file/1EZ55_0E.pdf [3] Fung A,Dawson D,Samoska L,et al.Two-port vector network analyzer measurements in the 218-344-and 356-500-GHz frequency bands[J]. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques,2006,54(12):4507-4512 [4] Wiatr W,Lewandowski A.Multiple reflect technique for wideband one-port VNA calibration //International Conference on Microwaves,Radar&Wireless Communications.Krakow:IEEE,2006:37-40 [5] Wiatr W.A broadband technique for one-port calibration of VNA //International Conference on Microwaves and Radar.Krakow:IEEE,1998:363-367 [6] Sigg W,Simon J.Reflectometer calibration using load,short and offset shorts with unknown phase[J].Electronics Letters,1991,27(18):1650-1651 [7] Oldfield L C,Ide J P,Griffin E J.A multistate reflectometer[J].IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,1985,34(2):198-201 [8] 颜庆津.数值分析[M].3版.北京:北京航空航天大学出版社,2006:135-141 Yan Qingjin.Numerical analysis[M].3rd ed.Beijing:Beijing University of Aeronautics and Astronautics Press,2006:135-141 (in Chinese)
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-11-25
  • 网络出版日期:  2011-06-30

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