质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理

袁润杰; 陈睿; 韩建伟; 夏清; 王璇; 陈钱; 梁亚楠

doi:10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060

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质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理

袁润杰, 陈睿, 韩建伟, 夏清, 王璇, 陈钱, 梁亚楠

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袁润杰, 陈睿, 韩建伟, 等 . 质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060

引用本文:

袁润杰, 陈睿, 韩建伟, 等 . 质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060

YUAN Run-jie, CHEN Rui, HAN Jian-wei, et al. Mechanism of anomalies in operational amplifier induced by proton deep charge-discharge effects[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060(in Chinese)

Citation:

YUAN Run-jie, CHEN Rui, HAN Jian-wei, et al. Mechanism of anomalies in operational amplifier induced by proton deep charge-discharge effects[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060(in Chinese)

袁润杰, 陈睿, 韩建伟, 等 . 质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060

引用本文:

袁润杰, 陈睿, 韩建伟, 等 . 质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060

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