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质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理

袁润杰 陈睿 韩建伟 夏清 王璇 陈钱 梁亚楠

袁润杰, 陈睿, 韩建伟, 等 . 质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060
引用本文: 袁润杰, 陈睿, 韩建伟, 等 . 质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060
YUAN Run-jie, CHEN Rui, HAN Jian-wei, et al. Mechanism of anomalies in operational amplifier induced by proton deep charge-discharge effects[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060(in Chinese)
Citation: YUAN Run-jie, CHEN Rui, HAN Jian-wei, et al. Mechanism of anomalies in operational amplifier induced by proton deep charge-discharge effects[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060(in Chinese)

质子深层充放电效应诱发运算放大电路异常机理

doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2024.0060

Mechanism of anomalies in operational amplifier induced by proton deep charge-discharge effects

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