基于EMD-LSTM的开关电源退化预测方法

张润芝; 蔡宜伦; 王兴坚; 贺文博; 徐嘉; 贾汝钧

doi:10.13700/j.bh.1001-5965.2025.0872

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基于EMD-LSTM的开关电源退化预测方法

张润芝, 蔡宜伦, 王兴坚, 贺文博, 徐嘉, 贾汝钧

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张润芝, 蔡宜伦, 王兴坚, 等 . 基于EMD-LSTM的开关电源退化预测方法[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2025.0872

引用本文:

张润芝, 蔡宜伦, 王兴坚, 等 . 基于EMD-LSTM的开关电源退化预测方法[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2025.0872

ZHANG Runzhi, CAI Yilun, WANG Xingjian, et al. Degradation prediction of switching power supply based on EMD-LSTM[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2025.0872(in Chinese)

Citation:

ZHANG Runzhi, CAI Yilun, WANG Xingjian, et al. Degradation prediction of switching power supply based on EMD-LSTM[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2025.0872(in Chinese)

张润芝, 蔡宜伦, 王兴坚, 等 . 基于EMD-LSTM的开关电源退化预测方法[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2025.0872

引用本文:

张润芝, 蔡宜伦, 王兴坚, 等 . 基于EMD-LSTM的开关电源退化预测方法[J]. 北京航空航天大学学报. doi: 10.13700/j.bh.1001-5965.2025.0872

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