留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

混合电路故障诊断中的状态分割法

万锴 马齐爽 王鹏

万锴, 马齐爽, 王鹏等 . 混合电路故障诊断中的状态分割法[J]. 北京航空航天大学学报, 2007, 33(10): 1196-1199.
引用本文: 万锴, 马齐爽, 王鹏等 . 混合电路故障诊断中的状态分割法[J]. 北京航空航天大学学报, 2007, 33(10): 1196-1199.
Wan Kai, Ma Qishuang, Wang Penget al. State partition technique in mixed-circuit fault diagnosis[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2007, 33(10): 1196-1199. (in Chinese)
Citation: Wan Kai, Ma Qishuang, Wang Penget al. State partition technique in mixed-circuit fault diagnosis[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2007, 33(10): 1196-1199. (in Chinese)

混合电路故障诊断中的状态分割法

基金项目: 航空基础科学基金资助项目(04I51024)
详细信息
  • 中图分类号: TN 701; TP 206+.3

State partition technique in mixed-circuit fault diagnosis

  • 摘要: 在故障字典法和离散事件系统(DES, Discrete Event System)离线诊断模型的基础上,提出一种对混合电路统一建模的方法:状态分割法.围绕系统状态和状态的划分之间的关系,以数学分析为主,提出交叉交运算的定义,证明了交叉交运算在划分集上的封闭性以及该运算是划分集上的划分积等性质.借用DES离线诊断模型的建模思想,提出系统的可诊断性定义,利用交叉交运算的性质证明了最小现象集存在并可达的结论.以故障现象分割系统状态集合的方式来定位系统所处的故障状态,把故障字典法和DES离线诊断模型统一起来,指出了状态分割法的通用性.

     

  • [1] 杨士元. 数字系统的故障诊断与可靠性设计[M].第二版.北京:清华大学出版社, 2000 Yang Shiyuan. Fault diagnosis and reliability design of digital system[M].2nd ed. Beijing: Tsinghua University Press,2000 (in Chinese) [2] 杨士元.模拟系统的故障诊断与可靠性设计[M].北京:清华大学出版社, 1993: 10-51 Yang Shiyuan. Fault diagnosis and reliability design of analog system[M].Beijing: Tsinghua University Press, 1993:10-51 (in Chinese) [3] Lin F, Markee J, Rado B. Design and test of mixed signal circuits: a discrete-event approach Proceedings of the 32nd Conference on Decision and Control. San Antonio, Texas:IEEE, 1993: 217-222 [4] 吕国亮.集合的划分与第二类Stirling数[J].渭南师范学院学报,2005, 20(2): 22-24 Lü Guoliang. The aggregative demarcation and the second stirling number[J]. Journal of Weinan Normal College, 2005, 20(2): 22-24(in Chinese) [5] 张菲菲,鲁昌华,王妍妍.几种求取电路最小测试集算法的比较研究[J].电测与仪表, 2006, 43(3): 43-45 Zhang Feifei, Lu Changhua, Wang Yanyan. Study on some algorithms for the computing of the minimal test set of circuits[J]. Electrical Measurement and Instrumentation, 2006, 43(3): 43-45(in Chinese)
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  2348
  • HTML全文浏览量:  96
  • PDF下载量:  1618
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2006-10-13
  • 网络出版日期:  2007-10-31

目录

    /

    返回文章
    返回
    常见问答