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亚像素条纹边缘提取技术在型面测量上的应用

陈石平 毕娅 李晓星 周贤宾

陈石平, 毕娅, 李晓星, 等 . 亚像素条纹边缘提取技术在型面测量上的应用[J]. 北京航空航天大学学报, 2006, 32(08): 979-982.
引用本文: 陈石平, 毕娅, 李晓星, 等 . 亚像素条纹边缘提取技术在型面测量上的应用[J]. 北京航空航天大学学报, 2006, 32(08): 979-982.
Chen Shiping, Bi Ya, Li Xiao, et al. The technique of sub-pixel stripes distinguish on the surface measurement[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2006, 32(08): 979-982. (in Chinese)
Citation: Chen Shiping, Bi Ya, Li Xiao, et al. The technique of sub-pixel stripes distinguish on the surface measurement[J]. Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 2006, 32(08): 979-982. (in Chinese)

亚像素条纹边缘提取技术在型面测量上的应用

详细信息
    作者简介:

    陈石平(1979-),男,江西井冈山人,硕士生, shp chen@me.buaa.edu.cn.

  • 中图分类号: TP 391

The technique of sub-pixel stripes distinguish on the surface measurement

  • 摘要: 三维型面非接触测量在工业领域有着广泛的应用前景.双目视觉是一种有效获取三维轮廓信息的方法,其中对大密度的黑白相间条纹进行精确定位和提取,是基于投影光栅图像的光学三维型面测量的关键技术和难点.利用空间编码技术将被测空间划分为若干区域,每个区域对应一个二进制码.条纹落在区域上与唯一的二进制码相对应,就可以对条纹精确定位.利用边缘提取算法获得像素级条纹后,再利用亚像素技术可以进一步对条纹进行高精度提取.介绍了基于灰度矩的和基于多项式拟合的亚像素边缘检测算法.将空间编码和亚像素条纹提取技术相结合,对光栅条纹进行亚像素级定位和提取的技术,与像素级的定位技术相比,能提高图像的定位精度,有效地改善测量系统的性能.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2005-10-14
  • 网络出版日期:  2006-08-31

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